芯片测试

问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

代码

#include<stdio.h> 
int main()
{
	int a[20][20]={0},b[20]={0};
	int n,i,j,k;
	scanf("%d",&n);
	
	for(i=1;i<=n;i++)
	    for(j=1;j<=n;j++)
		scanf("%d",&a[i][j]);
	
	for(i=1;i<=n;i++)
		for(j=1;j<=n;j++)
			if(a[i][j]==0)
			a[i][j]=-1;
	
	for(i=1;i<=n;i++)
		for(j=1;j<=n;j++)
		if(i!=j)
			b[i]+=a[i][j];
	
	for(i=1;i<=n;i++)
		if(b[i]>=0)
		{
			for(j=1;j<=n;j++)
			if(a[i][j]==1)
			printf("%d\t",j);
			printf("\n");
			break;
		}
	return 0;
}

运行截图