multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

利用“参数扫描分析”(Parameter Sweep Analysis)研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

偏置电阻

multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

思路

改变偏置电阻Rb22R_{b22},设置起始值、终值、点数为3kΩ\Omega、12kΩ\Omega、6
选择"DC Operating Point"
multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)
multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

结果展示

multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)
V(2)是集电极电压,V(5)是发射极电压
由图可知,随着Rb22R_{b22}增大,集电极电压增大,发射极电压减小。
推论:ICQI_{CQ}减小,电压放大倍数减小,输入电阻增大

集电极电阻

multisim利用参数扫描分析研究电阻变化对静态工作点的影响(以阻容耦合静态工作点稳定电路为例)

V(2)是集电极电压,V(5)是发射极电压
随着Rc的增大,发射极电压变化不大,说明集电极电阻变化对发射极电流IEQI_{EQ}影响小。集电极电压明显下降,管子压降减小。
当Rc=16660Ω\Omega时,集电极电压和发射极电压接近,管子进入饱和区,不能正常工作,不再放大

从理论上演算,增大Rc可使电压放大能力增强,但可能产生失真(饱和/底部失真),因此,应以电路不失真为度。
当然,降低集电极电阻也是避免饱和失真的方式之一