LPDDR4 第四章 4.7 读时间参数 4.8 DQS和CK时间参数 4.9 写前导和后导

4.7读时序

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4.7.1 tLZ(DQS), tLZ(DQ), tHZ(DQS), tHZ(DQ) 计算

tHZ和LZ在同一个时间窗口内计算时间,原理是利用一个参考电平,参考电平以上以下决定是否驱动DQ/DQS。

本节介绍了一种方法,该方法通过测量两个不同电压下的信号来计算设备不再驱动tHZ(DQS)和tHZ(DQ)或开始驱动tLZ(DQS),tLZ(DQ)时的时间点。 只要计算结果一致,电压测量点不用太在意。 参数tLZ(DQS),tLZ(DQ),tHZ(DQS)和tHZ(DQ)被定义为单端。

4.7.2 DQS驱动时间自动化测试

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NOTE1:校准条件:下拉驱动RON=40 VOH=VDDQ/3
NOTE2: DQS对地端接50
NOTE3:VOH的电平靠MR22[2:00]和MR3[0]设置,也有颗粒上的差异原因,使用实际的VOH值来进行tHZ和tLZ的测量。

tLZ的测试基本相似,如下。
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4.7.3 DQ驱动时间自动化测试

与DQS一致,很容易理解。
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4.8 tDQSCK LPDDR4 第四章 4.7 读时间参数 4.8 DQS和CK时间参数 4.9 写前导和后导

NOTE1:这部分包含了工艺温度和电压的变化。它包括频率> 20 MHz的交流噪声影响以及在固定温度下DC-20 MHz时以及最大电压为45 mV pk-pk的情况。 电源噪声必须符合组件的最小-最大直流工作条件。
NOTE2:tDQSCK_temp 温度和delay变化关系最大的值。
NOTE2:tDQSCK_volt 温度和delay变化关系最大的值。如下,不是看的很明白。==
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4.8 tDQSCK CS之间的变动

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NOTE1:两cs dram在同一温度电压的小环境下。
NOTE2:参数用于多CS的每条lane之间。

4.9 写前导和后导

DQS信号需要一个前导在第一次采数据之前,需要后导在之后,由MR寄存器配置长短。

在写操作上,需要两个时钟周期。

LPDDR4在写操作是可以由0.5/1.5tck的后导。标准的应该是0.5,时间由主控来把控。下面两幅图展示了不同
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