A1333:具有安全关键应用集成诊断功能的精密、高速、霍尔效应角度传感器 IC

A1333 是 360° 角度传感器 IC,它提供基于磁性圆形垂直霍尔效应(CVH)技术的非接触式高分辨率角位置信息。它具有系统级芯片(SoC)架构,包括:CVH前端、数字信号处理和电机换向(UVW)或编码器输出(A,B,I)。它还包括片上 EEPROM 技术,能够支持多达 100 个读/写周期,以实现校准参数的灵活线上编程。

A1333 非常适合用于要求进行 0°至 360°角度测量的汽车应用,例如电子动力转向 (EPS)、旋转 PRNDL 和油门系统。

A1333 支持客户集成到安全关键型应用中。

A1333 采用双晶片 24 管脚 eTSSOP 和单晶片 14 管脚 TSSOP 封装。封装为无铅封装,采用 100% 雾锡电镀引脚框。

A1333:具有安全关键应用集成诊断功能的精密、高速、霍尔效应角度传感器 IC

Allegro 的单晶片和双晶片 A1333 器件按照硬件产品开发 ISO26262:2011 要求进行设计,用于安全关键应用(待评估)。单晶片型设计符合 ASIL B 要求,双晶片设计满足 ASIL D 要求,条件是集成并与合适的系统级控制联合使用,并采用《A1333 安全手册》所述方式。

A1333:具有安全关键应用集成诊断功能的精密、高速、霍尔效应角度传感器 IC

A1333:具有安全关键应用集成诊断功能的精密、高速、霍尔效应角度传感器 IC

 

A1333:具有安全关键应用集成诊断功能的精密、高速、霍尔效应角度传感器 IC

  • 用于角位置、转速和方向测量的无触点 0° - 360° 角度传感器 IC

    • 能够用 900 G 磁场感测磁头旋转速度(12b 有效分辨率)

    • 圆形垂直霍尔效应 (CVH) 技术提供单通道传感器系统,支持各种气隙的操作

  • 根据 ISO 26262:2011 硬件产品开发要求开发的硬件产品,适用于安全关键应用(待评估)

    • 单晶片型设计用于满足 ASIL B 要求(集成并与适当的系统级控制装置结合使用),并采用《A1333 安全手册》所述方式。

    • 双晶片型设计用于满足 ASIL D 要求(集成并与适当的系统级控制装置结合使用),并采用《A1333 安全手册》所述方式。

  • 诊断覆盖率高

    • 片上诊断包括逻辑内置自检(LBIST)、单通道诊断和看门狗,以支持安全关键 (ASIL) 应用

    • SPI 上的 4 位 CRC

  • 用于存储厂家和客户校准参数的片上 EEPROM

    • 通过使用纠错控制 (ECC) 功能提供单位纠错、双位错误检测

  • 支持汽车和工业应用所需的恶劣工作环境,包括直接连接 12 V 电池

    • 可以支持 ISO 7637-2 脉冲 5b(最高 39 V)

    • 工作温度范围 –40°C 至 150°C

    • 工作电压范围 4.0 至 16.5V

  • 支持多种输出格式,便于系统集成

    • ABI / UVW 输出提供高分辨率、低延迟和初始位置 PWM

    • 10 MHz SPI,用于低延迟角度和诊断信息;使多个独立 IC 连接到同一总线

    • ABI 和 UVW 上输出分辨率可以选择

  • 支持多种编程/配置格式

    • 该系统可以通过 SPI 完全控制和编程,包括 EEPROM 写入

    • 对于有限引脚的系统,可以通过 VCC 和 PWM 引脚进行写入和读取。这允许在只有 ABI/UVW 和 PWM 引脚连接的器件的生产线中配置 EEPROM。

  • 堆叠双晶片结构,可以提高需要冗余传感器的系统的晶片到晶片匹配

  • 相对于“并排”双晶片方式,这种模式减小给定磁体直径的晶片对晶片匹配受到磁偏移的影响。 

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