LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况

1.FPGA版本为:aif_test_nomal_2ant_IF_30M72_ul_fir_old_rx_increase3db

测试1:

偏移量:7198-6828=370

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LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况


射频输入波形:

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射频输出波形:

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射频设置界面:

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测试2:

偏移量:1598-1228=370
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LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况

LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况

射频输入波形:
LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况

射频输出波形:
LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况

射频设置界面:

LTE系统调试记录11:测试经过射频后接收端波形时偏变化情况